Ο αναλυτής χαρακτηριστικών κοντά πεδίου VCSEL VNF-200 έχει σχεδιαστεί ειδικά για την ανάλυση χαρακτηριστικών κοντά πεδίου της επιφάνειας VCSEL, με ταχύτητα μέτρησης, υψηλή οπτική ανάλυση και υψηλή ακρίβεια μέτρησης. Το όργανο χρησιμοποιεί ένα μικροοπτικό σύστημα σε συνδυασμό με το σύστημα απεικόνισης και βελτιστοποιεί το σχεδιασμό με βάση τα χαρακτηριστικά του VCSEL για να επιτύχει την ανάλυση ακτινοβολίας μικροαπεικόνισης υψηλού μεγέθους VCSEL. Αποτελείται η διάταξη των δισδιάστατων τάξεων της επιφάνειας VCSEL, η ανίχνευση κακών σημείων και τα δεδομένα φωτεινότητας ακτινοβολίας μέσω μιας μόνο μέτρησης, ενώ λαμβάνονται και μεγέθη ενιαίων σημείων. Εξοπλισμένο με ειδικό λογισμικό ανάλυσης για την παραγωγή εκθέσεων δοκιμών σύμφωνα με τα πρότυπα. Γρήγορη και ακριβής ανάλυση των χαρακτηριστικών της επιφάνειας VCSEL σε γραμμές παραγωγής και εργαστήρια.