Σχεδιάστηκε με βάση τις αρχές της δυναμικής ανάλυσης Curran. Η διπλή πλατίνα οδηγεί το ηλεκτρόδιο να ανιχνεύσει την κατάσταση της δεξαμενής ηλεκτρόλυσης κατά τη διαδικασία τίτλωσης, μετρώντας την ποσότητα ηλεκτρικής ενέργειας που καταναλώνεται κατά τη διαδικασία ηλεκτρόλυσης, υπολογίζοντας την περιεκτικότητα σε θείο σύμφωνα με τον νόμο Faraday, ο μικρουπολογιστής ελέγχει και επεξεργάζεται δεδομένα σε πραγματικό χρόνο όλη τη διαδικασία.
Εφαρμόζεται για τον προσδιορισμό της περιεκτικότητας σε θείο σε διάφορα υλικά όπως άνθρακας, απορρίμματα άνθρακα, κάρκας, ορυκτά, βράχοι, πετροχημικά προϊόντα.

Τεχνικές παραμέτρους

Σειρά μέτρησης:0.05~99.99%

Γραμμικότητα: ±0.5%

Περιοχή ελέγχου θερμοκρασίας: θερμοκρασία δωματίου~1200℃

Ηλεκτρολυτικό ρεύμα: ≥350mA

Ακριβότητα: Συμφωνία

Χωρητικότητα μπαταρίας: ≤850mL

Σειρά δειγματοληψίας:45mg~55mg(Πρότυπα έως0.2mg)